完整的DC I-V、C-V和脈沖解決方案

4200-SCS系統(tǒng)是用于器件、材料和半導(dǎo)體工藝電氣特性分析的完整解決方案。這種先進(jìn)的參數(shù)分析儀具有無可比擬的測(cè)量靈敏度和精度，同時(shí)集成了嵌入式Windows操作系統(tǒng)和吉時(shí)利交互式測(cè)試環(huán)境Interactive Test Environment，為用戶進(jìn)行半導(dǎo)體器件特性分析提供了直觀而高級(jí)的功能。他是一套功能強(qiáng)大的單機(jī)解決方案。

要想獲取某種器件或材料的特性參數(shù)，需要三種基本的電氣測(cè)量技術(shù)。4200-SCS提供了這三種功能：

l 精密直流電流-電壓（I-V）測(cè)量是實(shí)現(xiàn)器件電氣特性分析的基礎(chǔ)。

l 交流阻抗，包括大家熟知的電容-電壓（C-V）技術(shù)，能夠提供直流測(cè)量本身無法提供的器件特性。

l 脈沖和瞬態(tài)測(cè)試增加了一個(gè)時(shí)域維度，支持器件的動(dòng)態(tài)特性分析。

硬件

4200-SCS采用了模塊化、可配置、可升級(jí)的架構(gòu)。這使得它能夠準(zhǔn)確滿足當(dāng)前的測(cè)量需求，并通過擴(kuò)展?jié)M足后期的需求。它的9個(gè)儀器插槽可以混合配置4種核心測(cè)量模塊。

l 多達(dá)9個(gè)精密直流源-測(cè)量單元能夠提供和測(cè)量0.1fA到1A的電壓，或者1μV到210V的電壓。

l 利用4210-CVU（C-V模塊）可以方便的在1kHz到10MHz測(cè)試頻率下進(jìn)行交流阻抗測(cè)試。可以測(cè)量的電容范圍從aF級(jí)到μF級(jí)。

l 利用4225-PMU超快I-V模塊可以進(jìn)行脈沖和瞬態(tài)測(cè)量。該模塊具有兩個(gè)獨(dú)立的電壓源，能夠以1V/ns的步幅調(diào)整電壓，輸出同時(shí)測(cè)量電壓和電流。當(dāng)安裝了多個(gè)模塊時(shí)，他們內(nèi)部同步的精度小于3ns。

l 選擇兩種不同的數(shù)字示波器模塊能夠方便而高效地生成數(shù)字波形。

軟件

吉時(shí)利交互式測(cè)試環(huán)境（KITE）提供了一套完整的圖形用戶界面，無需編程即可支持幾乎所有類型的特性分析測(cè)試。他提供了400多種標(biāo)準(zhǔn)的特性分析測(cè)試，包括MOSFET、BJT晶體管、二極管、電阻器、太陽(yáng)能電池、碳納米管和NVM存儲(chǔ)器，例如Flash、RRAM、PCRAM等等。

l 直觀的、點(diǎn)擊式Windows操作環(huán)境

l 獨(dú)特的遠(yuǎn)端前置放大器，將SMU的分辨率擴(kuò)展至0.1fA

l 新型C-V儀器使得C-V測(cè)量與DC I-V測(cè)量一樣容易

l 支持半導(dǎo)體高級(jí)測(cè)試所需的脈沖和脈沖I-V測(cè)試功能

l 示波器卡具有集成式示波器金額脈沖測(cè)量功能

l 配套的PC機(jī)支持快速測(cè)試設(shè)置。具有強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析、繪圖和打印功能，可存儲(chǔ)大量測(cè)試結(jié)果

l 獨(dú)特的瀏覽器式項(xiàng)目瀏覽器按照器件類型組織測(cè)試，支持多路測(cè)試，具有設(shè)定測(cè)試序列和循環(huán)控制功能。

l 內(nèi)置點(diǎn)擊式可靠性測(cè)試的應(yīng)力/測(cè)量、循環(huán)和數(shù)據(jù)分析功能，包括5種JEDEC兼容測(cè)試范例

l 支持各種LCR表、吉時(shí)利開關(guān)矩陣配置，以及吉時(shí)利3400系列和安捷倫81110脈沖發(fā)生器

l 支持Cascade Microtech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200型和PA-300型、Micromanipulator8860、Signatone CM500探測(cè)器和手動(dòng)探測(cè)器的軟件驅(qū)動(dòng)

l 高級(jí)半導(dǎo)體建模功能支持吉時(shí)利的IC-CAP器件建模工具包驅(qū)動(dòng)，支持Cadence BSIMProPlus/Virtuoso和Silvaco UTMOST